展示會出展のお知らせ

2020年9月8~11日の4日間開催される、応用物理學會に出展いたします。
今回は初めて100%オンライン講演會になり、出展もオンラインで行います。
當社の出展內容:
① 半導體結晶內欠陥検査裝置Crystalline Testerシリーズ(自社製)
② SiC関連製品(SiCrystal、Norstel/ST Micro、Ascatron、NovaSiC、mi2factory)
③ GaN関連製品(Nanowin、Enkris Semiconductor、EtaResearch、Ammono、Unipress、Seen Semiconductor)
④ DLTS分析システム及びDLTSとホール効果受託測定サービスなど(Phystech及び自社製)
⑤ QuanFINE? GaN-on-SiC HEMT構造(SweGaN)
⑥ (20-21)半極性GaNテンプレート及びLED(Saphlux)
⑦ 熱顕微鏡システム(TMX Scientific)
⑧ ガラス欠陥分析?物性測定サービス(Glass Service)
ご參加の際には、是非當社公開ページへお立ち寄りくださいませ。
81回応用物理學會秋季學術講演會https://meeting.jsap.or.jp/【日程】
- 講演會
2020年9月8日(火)~11日(金)
【場所】
オンライン(Zoomでの受講)